Сканирующий азотно-вакансионный микроскоп CIQTEK SNVM

Сканирующий азотно-вакансионный микроскоп CIQTEK (SNVM) представляет собой передовой научно-аналитический инструмент, который сочетает в себе технологию оптического обнаружения магнитного резонанса (ODMR) алмазного азота-вакансии и технологию сканирования атомно-силового микроскопа (AFM), которая может реализовать количественная и неразрушающая магнитная визуализация магнитных образцов с высоким пространственным разрешением и высокой чувствительностью. Существует две версии: версия для окружающей среды и криогенная версия

Функции:

• Высококачественный алмазный наконечник NV
• Количественная неинвазивная магнитная томография
• Сверхвысокое пространственное разрешение 10–30 нм
• Сверхвысокая чувствительность < 2мкТл/√Гц
• Поддержка условий окружающей среды и низких температур и высокого вакуума

Технические характеристики:

Версия для комнатной температуры:
Чувствительность магнитного измерения: ≤ 2 мкТл/Гц^1/2
Пространственное разрешение: 10-30 нм
Рабочая температура: 300 К
Дополнительные функции: Контурная магнитная визуализация, количественная магнитная визуализация, импульсная визуализация, магнитно-силовая микроскопия, магнитная визуализация, морфологическая визуализация

Криогенная версия:
Чувствительность магнитного измерения: ≤ 5 мкТл/Гц1/2
Пространственное разрешение: 10-30 нм
Рабочая температура: 2К - 300 К
Дополнительные функции: Контурная магнитная визуализация, количественная магнитная визуализация, импульсная визуализация, магнитно-силовая микроскопия, магнитная визуализация, морфологическая визуализация
Опция сверхпроводящего магнита: Без гелия: 1/1/1 Т, 3/3/3 Т, 9/1/1; Жидкий гелий: 6/1/1 Т, 6/2/2 Т