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Raster-stickstoff-fehlstellenmikroskop CIQTEK SNVM
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Das CIQTEK-Raster-Stickstoff-Leerstellen-Mikroskop (SNVM) ist ein fortschrittliches wissenschaftliches Analyseinstrument, das die Technologie der optischen Detektion von Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Magnetresonanz (ODMR) und die Technologie des Rasterkraftmikroskops (AFM) kombiniert und so eine quantitative und zerstörungsfreie magnetische Bildgebung magnetischer Proben mit hoher räumlicher Auflösung und hoher Empfindlichkeit ermöglicht. Es gibt zwei Versionen: Umweltversion und Kryoversion.
Merkmale:
- Hochwertige NV-Diamantspitze
- Quantitative nicht-invasive Magnettomografie
- Ultrahohe räumliche Auflösung: 10–30 nm
- Ultrahohe Empfindlichkeit: < 2 μT/√Hz
- Unterstützt Umgebungsbedingungen sowie niedrige Temperaturen und Hochvakuum.
Technische Daten:
Raumtemperaturversion:
Magnetische Messempfindlichkeit: ≤ 2 μT/Hz¹/2
Räumliche Auflösung: 10–30 nm
Betriebstemperatur: 300 K
Zusatzfunktionen: Kontur-Magnetbildgebung, quantitative Magnetbildgebung, Pulsbildgebung, Magnetkraftmikroskopie, Magnetbildgebung, Morphologische Bildgebung
Kryoversion:
Magnetische Messempfindlichkeit: ≤ 5 μT/Hz¹/2
Räumliche Auflösung: 10–30 nm
Betriebstemperatur: 2–300 K
Zusatzfunktionen: Kontur-Magnetbildgebung, quantitative Magnetbildgebung, Pulsbildgebung, Magnetkraftmikroskopie Bildgebung, morphologische Bildgebung
Option für supraleitende Magnete: Heliumfrei: 1/1/1 T, 3/3/3 T, 9/1/1; Flüssighelium: 6/1/1 T, 6/2/2 T