Сканирующий электронный микроскоп CIQTEK SEM3300 (SEM)

Рассчитать стоимость

Узнать подробности

Сканирующий электронный микроскоп нового поколения с вольфрамовой нитью

CIQTEK SEM3300 сканирующий электронный микроскоп (SEM/СЭМ) включает в себя такие технологии, как «супертуннельная» электронная оптика, встроенные в линзу детекторы электронов и объективы из электростатических и электромагнитных соединений. Применяя эти технологии в микроскопе с вольфрамовой нитью, давний предел разрешения такого СЭМ превышается, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа при низком напряжении, которые ранее были достижимы только с помощью СЭМ с автоэлектронной эмиссией.

Функции:

Высокое разрешения РЭМ с вольфрамовой нитью
Встроенный детектор электронов
Электромагнитный и электростатический комбинированный объектив
Безопаснее в использовании
Отличная расширяемость

Технические характеристики:
Разрешение: 2,5 нм @ 15 кВ, SE, 4 нм @ 3 кВ, SE, 5 нм @ 1 кВ, SE
Ускоряющее напряжение: 0,1 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид): 1 х ~ 300 000 х
Камера: Оптическая навигация, Мониторинг камеры
Тип сцены: 5-осевой вакуумный мотор, совместимый с двигателем
Диапазон XY: 125 мм
Диапазон Z: 50 мм
Диапазон Т: - 10° ~ 90°
Диапазон R: 360°
Стандарт: Внутрилинзовый детектор электронов (внутренняя линза), Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)Операционная система: Windows
Навигация: Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции: Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигматор