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Rasterelektronenmikroskop CIQTEK SEM3300 (SEM)
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Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation
Das CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) vereint Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Elektronendetektoren in der Linse sowie elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf ein Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze von Wolframfilament-REMs überschritten. Dadurch können Wolframfilament-REMs Niederspannungsanalysen durchführen, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Funktionen:
- Hochauflösendes Wolframfilament-REM
- Eingebauter Elektronendetektor
- Elektromagnetische und elektrostatische Kombinationslinse
- Sicherer in der Anwendung
- Hervorragende Erweiterbarkeit
Technische Daten:
Auflösung: 2,5 nm bei 15 kV (SE), 4 nm bei 3 kV (SE), 5 nm bei 1 kV (SE)
Beschleunigungsspannung: 0,1 kV ~ 30 kV
Vergrößerung (Polaroid): 1x ~ 300.000x
Kamera: Optische Navigation, Kameraüberwachung
Szenentyp: 5-Achsen-Vakuummotor, kompatibel mit Motor
XY-Bereich: 125 mm
Z-Bereich: 50 mm
T-Bereich: -10° ~ 90°
R-Bereich: 360°
Standard: Elektronendetektor im Objektiv (interne Linse), Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
Betriebssystem: Windows
Navigation: Optische Navigation, schnelle Gestennavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen: Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatischer Stigmator