Сканирующий электронный микроскоп CIQTEK SEM3200 (SEM)

Рассчитать стоимость

Узнать подробности

Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью

CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп (SEM/СЭМ) общего назначения с вольфрамовой нитью с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.

Функции:

Выдающаяся производительность при низком напряжении
Электронная пушка с двойным анодом
Режим низкого вакуума
Интеллектуальная коррекция астигматизма изображения
Предварительно выровненная вольфрамовая нить
Отличная расширяемость

Технические характеристики:
Разрешение: 3 нм @ 30 кВ, SE, 7 нм @ 3 кВ, SE, 4 нм @ 30 кВ, BSE, 3 нм @ 30 кВ, SE, 30 Па
Ускоряющее напряжение: 0,2 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид): 1 х ~ 300 000 х
Низкий вакуум: 5 ~ 1000 Па (опция)
Камера: Оптическая навигация, Мониторинг камеры
Тип сцены: 5-осевой вакуумный мотор, совместимый с двигателем
Диапазон XY: 125 мм
Диапазон Z: 50 мм
Диапазон Т: - 10° ~ 90°
Диапазон R: 360°
Стандарт: Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Операционная система: Windows
Навигация: Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции: Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигматор