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Rasterelektronenmikroskop CIQTEK SEM3200 (SEM)
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Leistungsstarkes und vielseitiges Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop
Das CIQTEK SEM3200 ist ein exzellentes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur sorgt für eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Signal-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen und kostengünstigen Analysegerät macht.
Merkmale:
- Hervorragende Niederspannungsleistung
- Doppelanoden-Elektronenstrahler
- Niedervakuummodus
- Intelligente Bildastigmatismuskorrektur
- Vorjustierter Wolframfaden
- Hervorragende Erweiterbarkeit
Technische Daten:
Auflösung: 3 nm bei 30 kV, SE, 7 nm bei 3 kV, SE, 4 nm bei 30 kV, BSE, 3 nm bei 30 kV, SE, 30 Pa
Beschleunigungsspannung: 0,2 kV bis 30 kV
Vergrößerung (Polaroid): 1- bis 300.000-fach
Niedervakuum: 5 bis 1000 Pa (optional)
Kamera: Optische Navigation, Kameraüberwachung
Tischtyp: 5-Achsen-Vakuummotor, kompatibel mit Motor
XY-Bereich: 125 mm
Z-Bereich: 50 mm
T-Bereich: -10° bis 90°
R-Bereich: 360°
Standard: Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
Betriebssystem: Windows
Navigation: Optische Navigation, Gestensteuerung, Trackball (optional)
Automatische Funktionen: Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatischer Stigmator