


| Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF) | Мгновенная гамма-нейтронная активация (PGNAA) | Анализатор на ближнем инфракрасном спектре NIR-ON | |
| Измерительный метод | Оффлайн | Онлайн | Онлайн |
| Цель измерений | Контроль качества DIN/ASTM | Контроль процесса, направления | Контроль процесса, направления |
| Практические расходы | Средние | Высокие | Низкие |
| Аналитический базис | Электронные оболочки | Ядра | Молекулы и минералы |
| Диапазон элементов | Зависит от калибровки: F (WDX) или Na (EDX) | От Na или от O (нейтронная трубка) | Все элементы, включая водород, влажность |
| Время анализа | 40-60 минут | Среднее | За 1 минуту 240 измерений |
| Безопасность | Рентгеновские лучи. Требуется лицензия, постоянный контроль со стороны уполномоченных органов. Происходит разрушение конвейера. Опасно для здоровья | Ионизирующее излучение. Требуется лицензия, постоянный контроль со стороны уполномоченных органов. Происходит разрушение конвейера. Опасно для здоровья | Нет радиационного излучения, разрешение не требуется. Безопасно. |
| Аналитическая точность | Высокая | От высокой до низкой (зависит от элемента) | Высокая |