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Analytisches rasterelektronenmikroskop mit thermischer feldemission CIQTEK SEM4000X (FE-SEM)
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Das CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und meistert die Herausforderungen der hochauflösenden Bildgebung verschiedener Probentypen problemlos. Es kann mit einem Super-Beam-Retardation-Modus aufgerüstet werden, um die Auflösung bei niedriger Spannung weiter zu verbessern.
Das Mikroskop nutzt Multidetektortechnologie mit einem säulenintegrierten Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale detektieren und gleichzeitig eine hohe Auflösung erreichen kann. Der kammermontierte Elektronendetektor (LD) mit Kristallszintillator und Photomultipliern sorgt für höhere Empfindlichkeit und Effizienz und ermöglicht so eine hervorragende stereoskopische Bildgebung. Die benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, Auto-Stigator und automatische Ausrichtung für die schnelle Aufnahme hochauflösender Bilder.
Merkmale:
- Hohe Auflösung
- Multidetektortechnologie
- Vereinfachte Ausrichtung
- Aufgebaut auf einer High-End-Plattform
- Ultrastrahl-Verzögerungsmodus-Technologie
- Hervorragende Erweiterbarkeit
Technische Daten:
Auflösung: 0,9 nm bei 30 kV, SE, 1,2 nm bei 15 kV, SE, 1,9 nm bei 1 kV, SE, 1,5 nm bei 1 kV (Ultrastrahl-Verzögerung), 1 nm bei 15 kV (Superstrahl-Verzögerung)
Beschleunigungsspannung: 0,2 kV bis 30 kV
Vergrößerung (Polaroid): 1- bis 1.000.000-fach
Elektronenstrahlerzeuger: Schottky-Feldemissionskanone
Kamera: Dualkameras (optische Navigation + Kameraüberwachung)
Tischbereich: X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm, T: -10° bis +70°, R: 360°
Standard: Interner Elektronendetektor: UD-BSE/UD-SE, Everhart-Thornley-Detektor: LD
Betriebssystem: Windows
Navigation: Optische Navigation, Gestennavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen: Automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, Automatischer Stigmator