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Rasterelektronenmikroskop CIQTEK SEM2100 (SEM)
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Das Rasterelektronenmikroskop CIQTEK SEM2100 bietet einen vereinfachten Workflow und entspricht Industriestandards sowie den Benutzergewohnheiten im Design der Benutzeroberfläche. Trotz der minimalistischen Benutzeroberfläche der Software bietet es umfassende automatisierte Funktionen, Mess- und Anmerkungswerkzeuge, Möglichkeiten zur Bildnachbearbeitung, optische Bildnavigation und vieles mehr. Das Design des SEM2100 setzt die Idee „Einfachheit ohne Funktionalitätseinbußen“ perfekt um.
Funktionen:
- Intuitive, übersichtliche und benutzerfreundliche Benutzeroberfläche
- Umfassende Automatisierungsfunktionen
- Integrierte Bildnachbearbeitung
- Standardmäßige optische Bildnavigation
- Sicherere Anwendung
Technische Daten:
Auflösung: 3,9 nm bei 20 kV (SE), 4,5 nm bei 20 kV (BSE)
Beschleunigungsspannung: 0,5 kV ~ 30 kV
Vergrößerung (Polaroid): 1-fach ~ 300.000-fach
Kamera: Optische Navigation, Kameraüberwachung
Szenentyp: 3-achsig, XYZ, kompatibel mit Vakuummotorantrieb
XY-Bereich: 125 mm
Z-Bereich: 50 mm
Standard: Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
Betriebssystem: Windows
Navigation: Optische Navigation, schnelle Gestennavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen: Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatischer Stigmator