Главная · Оборудование CIQTEK · Просвечивающие электронные микроскопы CIQTEK ·
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120 (TEM)
Рассчитать стоимость
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120 (TEM)
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120 (TEM)
Ваше имя
Ваш E-mail
Ваш телефон
Рассчитать стоимость
Менеджер свяжется с вами и ответит на все ваши вопросы
Нажимая на кнопку, Вы соглашаетесь с условиями политики конфиденциальности
Узнать подробности
Ваше имя
Ваш E-mail
Ваш телефон
Узнать подробности
Менеджер свяжется с вами и ответит на все ваши вопросы
Нажимая на кнопку, Вы соглашаетесь с условиями политики конфиденциальности

Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120 (TEM)

Рассчитать стоимость
Узнать подробности
Просвечивающий электронный микроскоп CIQTEK TH-F120 (TEM/ПЭМ) 120 кВ

  1. Разделенные рабочие пространства: Пользователи работают с TEM в разделенной комнате с комфортом, снижая влияние окружающей среды на TEM.
  2. Высокая эксплуатационная эффективность: Специальное программное обеспечение объединяет высокоавтоматизированные процессы, обеспечивая эффективное взаимодействие TEM с мониторингом в реальном времени.
  3. Улучшенный опыт эксплуатации: Оборудован автоэмиссионной электронной пушкой с высокоавтоматизированной системой.
  4. Высокая расширяемость: Для пользователей зарезервировано достаточное количество интерфейсов для перехода на более высокую конфигурацию, отвечающую разнообразным требованиям приложений.

Функции:

  • Автоэмиссионный пистолет Шоттки
  • Высокопиксельная CMOS-камера
  • Система автоматического переключения параллельных/сходящихся лучей
  • Четырехосный высокоточный столик
  • Симметричный объектив постоянной кратности
  • Высокоинтегрированное программное обеспечение

Технические характеристики:

Высококонтрастная версия:
Напряжение ускорения: 10 кВ ~120 кВ
Ограничение информации: 0,20 нм
Разрешение точек: 0,36 нм
Диапазон увеличения: 10 ~1 200 000 x
Размер сенсора камеры: 4096 x 4096 (пикселей)
Угол поворота столика: -90° ~ +90°
Дополнительное оборудование: EDS, STEM, боковая камера, EELS, криобокс

Версия с высоким разрешением:
Напряжение ускорения: 10 кВ ~120 кВ
Ограничение информации: 0,14 нм
Разрешение точек: 0,3 нм
Диапазон увеличения: 10 ~ 1 500 000 x
Размер сенсора камеры: 4096 x 4096 (пикселей)
Угол поворота столика: -70° ~ +70°
Дополнительное оборудование: EDS, STEM, боковая камера, EELS, криобокс

Республика Казахстан, г. Семей, ул. Физкультурная, 4а
+7 (778) 576-15-75
info@okb.kz