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Automatischer oberflächen und porosimetrie-analysator CIQTEK EASY-V 3440
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Automatischer oberflächen und porosimetrie-analysator CIQTEK EASY-V 3440
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CIQTEK EASY-V 3440 ist ein von CIQTEK eigenständig entwickeltes Messgerät zur Messung spezifischer Oberflächen und Porengrößen, das die statisch-volumetrische Methode verwendet.
- Messung spezifischer Oberflächen im Bereich von 0,0005 m²/g und darüber.
- Porengrößenanalyse: 0,35–2 nm (Mikroporen), Analyse der Mikroporengrößenverteilung; 2–500 nm (Mesoporen oder Makroporen).
- Vier Analysestationen ermöglichen die gleichzeitige Prüfung von vier Proben.
- Ausgestattet mit einer Molekularpumpe.
- Eingebauter, sicherer und stabiler Prüfcomputer. Der kapazitive 10-Zoll-Touchscreen kann über ein Tablet gesteuert werden.
- Das integrierte, schrittmotorgesteuerte Kugelumlaufspindelsystem behebt die Nachteile gängiger Spindeltypen, die leicht blockieren können.
- Die Sicherheitstür verhindert Unfälle durch versehentlichen Kontakt mit niedrig temperiertem Flüssigstickstoff und eliminiert den Einfluss von Umwelteinflüssen auf den Prüfvorgang.
- Der 4-Liter-Dewarbehälter aus Edelstahl gleicht die spröden Eigenschaften von Glasdewarbehältern aus, und die hohe Wärmeisolierung gewährleistet kontinuierliche Tests über mehr als 72 Stunden.
Technische Daten:
Testfunktionen:
Statisches Volumenprinzip, Messung der Adsorptions-/Desorptionsisotherme, BET-Einpunkt- und Mehrpunktmethode, Langmuir-Methode, Messung der äußeren Oberfläche per T-Graph; BJH-Analyse des Gesamtporenvolumens und der Porengrößenverteilung, DR- und DA-Fülltheorie, HK-Mikroporenanalyse, SF-Mikroporenanalyse, MP-Mikroporenanalyse, T-Graph-Mikroporenanalyse, Messung der tatsächlichen Dichte; Leistungsstarkes Online-Datenanalysesystem sowie Testsystem für spezifische Oberfläche und Porengrößenverteilung für stabilere und genauere Testdaten.
Testbereiche:
0,0005 (m²/g) ～ unbekannte Obergrenze (spezifische Oberfläche);
0,35 nm–500 nm, 0,0001 cm³/g – unbekannte Obergrenze (Gesamtporenvolumen).
Prüfgenauigkeit:
Wiederholgenauigkeit der spezifischen Oberfläche ≤ ± 1,0 %, wahrscheinlichste Abweichung der Porengröße ≤ 0,02 nm.
Probenanzahl:
Vier Proben wurden gleichzeitig geprüft. Die Entgasung der vier Proben sowie das Probenprüfsystem und das Probenaufbereitungssystem sind unabhängig voneinander.
Prüfung und Probenaufbereitung können gleichzeitig durchgeführt werden. Dies vermeidet eine Kontamination der Prüfleitung, gewährleistet die Prüfgenauigkeit und verlängert die Lebensdauer des Geräts.
Prüfmodi:
Integrierter „Stickstoff-Einzelprüfmodus“ und „Stickstoff + Helium-Standardprüfmodus“ zur Auswahl je nach Bedarf.
Der „Stickstoff + Helium-Standardprüfmodus“ entspricht internationalen Standards, gewährleistet die Genauigkeit und Konsistenz der Ergebnisse und ist einfach zu bedienen.
Für Proben, die Helium bei niedrigen Temperaturen adsorbieren können, ist Heliumgas zur Bestimmung des Headspace nicht geeignet. Der „Stickstoff-Einzelprüfmodus“ kann die gewünschten Prüfergebnisse erzielen.